当前位置: 
期刊简介
《电子测试》（半月刊）曾用刊名：微电子测试，1994年创刊，北京自动测试技术研究所主管、主办，国际标准刊号：ISSN1000-8519，国内统一刊号：CN11-3927/TN，邮发代号：82-870。《电子测试》立足最新电子技术，提供产品测试解决方案，开发与质检机构、研究所和大专院校必备的参考资料。 《电子测试》是由北京自动测试技术研究所主办，通过邮局征订，面向全国发行，是专注于电子测试方面的科技类学术刊物。自创刊以来，《电子测试》一直受到研究所、企业的开发、生产、质检工程师和院校师生的喜爱。自2007年1期开始，《电子测试》的内容将更侧重于测试技术和产品解决方案。为了更加符合读者的需求，突出杂志的实用性、启发性、学习性、传播性，让《电子测试》真正成为读者案头的工具书，成为专业人士了解国内外测试行业最新发展趋势和最新热点的窗口。
征稿栏目
设计研发、电子科技、解决方案、智能应用；机械世界；数字时代；信息工程；行业动态；教育探索；学术交流；科技论坛等。
投稿须知
1、文稿应具有科学性、创新性、实用性，论点明确、层次清楚，文字精练，数据准确。
2、实行无纸化办公，投稿使用word格式，以“附件”形式发送电子邮件。请注明工作单位、通讯地址、邮政编码、电子邮箱、电话号码，中文摘要、关键词（3～5个）、参考文献、并附作者简介（姓名、出生年月、性别、民族、籍贯、职称、学位、简历）。
3、本站编辑部会及时处理所投稿件，一般审稿时间为3-4个工作日，核心期刊稿件为一周左右。
4、本站编辑部根据期刊不同的版面要求，有权对稿件进行适当修改。
5、文章内容要求原创、严禁抄袭，同一篇稿件切勿一稿多投，否则后果自负。
6、不符合录用条件的文章本刊不退稿件，作者自行处理。